發(fā)布時(shí)間:2020-04-26
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氨逃逸監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的技術(shù)對(duì)比與優(yōu)勢(shì)
宜先氨逃逸在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)采用QCL + TDLAS技術(shù),目標(biāo)譜線是氨分子在中紅外波段強(qiáng)吸收峰。分子光譜學(xué)研究表明,氨分子中紅外吸收譜線比近紅 外吸收譜線強(qiáng)數(shù)十倍,在同樣測(cè)量條件下,檢測(cè)精度可達(dá)ppb級(jí)別,是 近紅外TDLAS數(shù)十倍。氨逃逸系統(tǒng)采用新型的半導(dǎo)體QCL作為激光源, 結(jié)合穩(wěn)定可靠的光路設(shè)計(jì)及信號(hào)處理技術(shù),使TDLAS光學(xué)傳感技術(shù) 達(dá)到前所未有的精度和穩(wěn)定性,解決了近紅外氨表穩(wěn)定性差、精度不高 的現(xiàn)狀,可以充分滿足市場(chǎng)需求。
技術(shù)對(duì)比優(yōu)勢(shì)
技術(shù)對(duì)比 |
宜先儀器
QCL-TDLAS |
近紅外抽取式
TDLAS |
原位式TDLAS |
紫外差分DOAS
(間接測(cè)量) |
環(huán)境適應(yīng)性 |
適應(yīng)高溫、高壓、
高濕、高粉塵 |
水分及其它雜
質(zhì)有較大影響 |
無法長時(shí)間適應(yīng)脫硝惡 劣工況條件,受現(xiàn)場(chǎng)振 動(dòng)、熱膨脹等影響嚴(yán)重 |
無法適應(yīng)高溫的脫 硝現(xiàn)場(chǎng)惡劣工況 |
介質(zhì)干擾 |
不受背景氣體、粉 塵及光學(xué)視窗污 染干擾 |
易受背景水汽
干擾 |
易受粉塵干擾 |
易受背景氣體干擾 |
檢測(cè)靈敏度 |
0.01 ppm |
1ppm |
1ppm |
10ppm (NOx) |
可靠性 |
損耗部件成本較 低,光路穩(wěn)定,可 靠性高 |
需要長測(cè)量光 程,光路不穩(wěn) 定,精密光學(xué) 池易損,可靠 性低 |
粉塵、煙道震動(dòng)對(duì)數(shù)據(jù)穩(wěn) 定性有較大影響,數(shù)據(jù)穩(wěn) 定性差 |
通過測(cè)量NOx推 算NH3濃度,屬間 接測(cè)量,數(shù)據(jù)不可 靠 |
維護(hù)及標(biāo)定 |
維護(hù)方便,標(biāo)定
1~2次/年 |
維護(hù)方便,標(biāo)
定1~2次/年 |
無法在線校準(zhǔn),窗鏡易污
染,需定期對(duì)光 |
維護(hù)方便,標(biāo)定
1~2次/年 |
耗材 |
低成本耗材,壽命 長 |
貴重光學(xué)池及 鏡片易損 |
鏡片易受污染 |
耗材成本較低 |